SEL/SEU/TID一次讲清！芯片上太空3大威胁
太空辐射，主要靠这3招“攻击”芯片☄️

⚡ SEL 单粒子锁定
高能粒子触发寄生晶闸管导通
→ 电流失控，可能直接烧毁
电源、接口芯片最要小心

🔀 SEU 单粒子翻转
存储单元的比特位被翻转
0变1、1变0
→ 数据出错、程序跑飞，器件本身不坏
存储器、FPGA、MCU常见

🕰️ TID 总剂量效应
辐射长期累积，绝缘层老化
→ 阈值漂移、漏电增加、速度变慢
所有器件都躲不掉

怎么应对：
选型加固 + 设计防护 + 测试验证
三管齐下，才能可靠在轨✨

国科安芯
低成本抗辐照芯片
三大指标全部符合标准

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