现有的杂散光测量系统分为两类，分别为面源法（黑斑法）和点源法。
在杂散光方面，棱镜光谱仪的杂散光可达10-4，而光栅的杂散光为10-2。
取景器盖能防止由于离散光进入取景器目镜而引起不正确的曝光。它能保证测光系统完全不受影响。
实验表明，对于反光强烈的光洁金属表面，杂光的强度与结构光接近，普通的滤光手段难以克服。
最后，从原理上解释了杂散光修正效果受入射光波长影响的原因。
细胞被囚禁在载玻片上方十微米左右的位置，使来自载玻片的杂散光明显减弱。
通过合理地设置外遮光罩可以有效地抑制杂散光。
为了对抗灰尘和杂散光，整个相机由一层50微米厚，黑色的聚酰亚胺薄膜包裹。
进一步分析多级杂光的发生机理.提出次镜人字形光栏的改进建议。
光学系统的杂散光极易在系统内形成多个鬼像，严重影响光束质量和传输特性。
设计在杂散光源抑制角已知时的外遮光罩，并利用C语言实现程序化设计其挡光环的方法；
杂散光抑制对提高空间相机的成像品质起着至关重要的作用。
结果表明，对同一光学产品，选取的黑体目标尺寸越大，测试结果杂光越小；
杂散光与吸光度误差和吸光度真值关系的研究