介绍了一种用于抗闭锁的辐射敏感开关。
获得了单粒子翻转和单粒子闭锁截面与入射角度的依赖关系。
从体硅CMOS器件的闭锁效应入手,提出了抑制闭锁的一种新方法——伪闭锁路径法。
大规模集成电路单粒子闭锁辐射效应测试系统
用于抗闭锁的辐射敏感开关
一种抑制辐射闭锁的新方法
伪闭锁路径法的应用