四探针-测量半导体晶片表面电阻的设备。
四探针法用在非常薄的样品，例如外延晶圆片和导电涂层上。
管道在使用放置式探头检测时的真实涡流特性参数分析
使用四点探测法测定专业平板显示器用薄膜导线的薄膜电阻的标准规程
四探针Mapping自动测试仪中电阻率温度系数的规范化拟合多项式的应用
四探针技术测量薄层电阻的原理及应用
点探头涡流无损检测中磁介质作用机理研究
硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法
半导体四探针测试仪新型恒流源的开发
智能四探针电阻率测试仪的研制